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當(dāng)前位置：首頁 / 產(chǎn)品中心 / 其他專用儀器 / 測(cè)試儀 / GSZ-RTS-9雙電測(cè)四探針測(cè)試儀
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雙電測(cè)四探針測(cè)試儀是個(gè)運(yùn)行在計(jì)算機(jī)上擁有友好測(cè)試界面的用戶程序。測(cè)試程序在計(jì)算機(jī)與RTS-9型四探針測(cè)試儀連接的狀態(tài)下，通過計(jì)算機(jī)的并口實(shí)現(xiàn)通訊。    測(cè)試程序控制四探針測(cè)試儀行測(cè)量并實(shí)時(shí)采集兩次組合模式下的測(cè)試數(shù)據(jù)，把采集到的數(shù)據(jù)在計(jì)算機(jī)中加以分析，然后把測(cè)試數(shù)據(jù)以表格，圖形直觀地記錄、顯示出來。用戶可對(duì)采集到的數(shù)據(jù)在
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2024-12-092024-10-292024-09-112024-08-19| 品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) |
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雙電測(cè)四探針測(cè)試儀/四探針測(cè)試儀/四探針檢測(cè)儀/雙電測(cè)四探針測(cè)定儀/雙電測(cè)四探針電阻率測(cè)試儀 型號(hào)：GSZ-RTS-9
雙電測(cè)四探針測(cè)試儀采用了四探針雙電測(cè)組合(亦稱雙位組合)測(cè)量新,將范德堡測(cè)量方法推廣應(yīng)用到直線四探針上,利用電探針、電壓探針的變換，在計(jì)算機(jī)控制下行兩次電測(cè)量，能自動(dòng)消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響。因而每次測(cè)量不知道探針間距、樣品尺寸及探針在樣品表面上的位置。由于每次測(cè)量都是對(duì)幾何因素的影響行動(dòng)態(tài)的自動(dòng)修正，因此顯著降低了幾何因素影響，從而提了測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確度。所有這些，用目前大量使用的常規(guī)四探針測(cè)量方法所的儀器是無法實(shí)現(xiàn)的。
是個(gè)運(yùn)行在計(jì)算機(jī)上擁有友好測(cè)試界面的用戶程序。測(cè)試程序在計(jì)算機(jī)與RTS-9型四探針測(cè)試儀連接的狀態(tài)下，通過計(jì)算機(jī)的并口實(shí)現(xiàn)通訊。
測(cè)試程序控制四探針測(cè)試儀行測(cè)量并實(shí)時(shí)采集兩次組合模式下的測(cè)試數(shù)據(jù)，把采集到的數(shù)據(jù)在計(jì)算機(jī)中加以分析，然后把測(cè)試數(shù)據(jù)以表格，圖形直觀地記錄、顯示出來。用戶可對(duì)采集到的數(shù)據(jù)在電腦中保存或者打印以備日后參考和查看，還可以把采集到的數(shù)據(jù)輸出到Excel中，讓用戶對(duì)數(shù)據(jù)行各種數(shù)據(jù)分析
測(cè)量范圍 | 電阻率：10-5～105 Ω.cm(可擴(kuò)展)； |
可測(cè)晶片厚度 | ≤3mm |
可測(cè)晶片直徑 | 140mmX150mm(配S-2A型測(cè)試臺(tái))； |
恒源 | 電量程分為1μA、10μA、100μA、1mA、10mA、100mA六檔，各檔電連續(xù)可調(diào) |
數(shù)字電壓表 | 量程及表示形式：000.00～199.99mV； |
四探針探頭基本標(biāo) | 間距：1±0.01mm； |
四探針探頭應(yīng)用參數(shù) | (見探頭附帶的合格證) |
模擬電阻測(cè)量相對(duì)誤差 | 0.01Ω、0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω、1000Ω、10000Ω≤0.3%±1字 |
整機(jī)測(cè)量zui大相對(duì)誤差 | (用硅標(biāo)樣片：0.01-180Ω.cm測(cè)試)≤±4% |
整機(jī)測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)不確定度 | ≤4% |
計(jì)算機(jī)通訊接口 | 并口 |
標(biāo)準(zhǔn)使用環(huán)境 | 溫度：23±2℃； |
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